衍射时差法超声检测技术(Time of Flight Diffraction Technique，简称TOM)是依靠超声波与缺陷尖端或端部相互作用后发出的衍射波来检测缺陷，并对缺陷进行定位、定量的一种无损检测技术。
TOM检测技术需要专用的扫查装置，扫查装置带位置传感器，在实施扫查的过程中实时成像(A扫描、D或B扫描)，检测的数据可保存，通过专用的数据分析处理软件可进行质量评判，TOM检测技术采用全波射频RF信号记录和TOFD图像显示，故对缺陷评价时可利用的信息缺大，检测结果更加直观，结果分析更加科学。
TOM检测技术在检测精度、可靠性、降低成本、提高效率、环境保护等各个方面表现均十分优异。与传统的超声检测方法相比，具有检出能力强、精度高、检测方便、成像直观等优点,有常规波幅法检测不具备的长处。TOM可根据被检材料的几何尺寸充分利用直通波的相位和缺陷端部的时间差信息，来对缺陷进行测深定高。
